本产品实现了珍珠珠层厚度无损检测。利用低功率近红外光对珍珠无损成像，照射到样品的光功率仅4~6mW，波长为1.3微米，无放射性，对检测工作者和珍珠样品完全无损伤，检测实验室无需放射性屏蔽，不会对工作人员产生潜在的X线放射性危害；与传统的X线前向透射成像相比，本产品采用了创新的非接触式背向散射成像技术实现了单珠检测，使用于半成品、成品珍珠首饰的测量成为可能；直观的珍珠珠层图像，准确测量珍珠珠层厚度，分辨率可达0.03毫米；仪器小型化，安装、使用方便，可在生产工厂、检测机构、分销单位、零售单位等场所直接使用；成像检测速度快，每个样品扫描仅用0.05秒，可选配分选器，适用于珍珠养殖、生产过程中的分级、筛选。
产品应用：
·珍珠定量分级和定性质量评估的结论；
·判别珍珠真伪、品种、有无核；
·实现基于珠层厚度的定量分级, 测量范围0.1-4mm,误差<10％；
·根据珠层内部结构特性为珍珠培育和质量评估提供辅助信息。
本产品应用于珍珠检测不受颜色、品种等条件制约，可作为珍珠质量监管和鉴定用的常规检测设备。
